Rasterelektronenmikroskopie (REM)

 

Das Rasterelektronenmikroskop basiert auf der Abrasterung der Objektoberfläche mittels eines feingebündelten Elektronenstrahls der mit Hilfe von Magnetspulen auf einen Punkt auf dem Objekt fokussiert wird. Die verschiedenen Wechselwirkungen des Elektronenstrahl mit dem Objekt werden mit Hilfe von Detektoren in ein Bild umgewandelt. Die typisch mit einem Rasterelektronenmikroskop erzeugten Bilder sind Abbildungen der Objektoberflächen und weisen dabei eine hohe Schärfentiefe auf.

Für diese Oberflächenanalysen steht der Arbeitsgruppe ein Feldemission-Rasterelektronenmikroskop Gemini300 mit verschiedenen Detektoren für Sekundär- Rückstreuelektronen und zu Verfügung. Die Probenkammer variablem Druck ermöglicht zudem die Analyse von frischen Präparaten.

Für die 3-D Rekonstruktion steht ein Gatan System für das 3View Serial Block Face Imaging zu Verfügung.

Mikroskop:

 

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Zeiss Gemini300 + Gatan 3View Block Face Imaging